熱門(mén)關(guān)鍵詞: 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無(wú)風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
TCT溫度循環(huán)測(cè)試箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有:100L、150L、225L、408L、800L、1000L的內(nèi)箱尺寸;
備注:50L~100L及1000L以上是非標(biāo)定制產(chǎn)品,具體規(guī)格參數(shù)以方案書(shū)為準(zhǔn)。
低溫可選:-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20 ℃、0℃和常溫;
高溫可選:+150℃、+180℃、+200℃;
濕度范圍有:20%~98%RH(非標(biāo)可選:5%~~98%RH、10%~98%RH)
TCT溫度循環(huán)測(cè)試箱適合電子元器件,半導(dǎo)體IC、芯片、光伏組件,電器,食品,車(chē)輛,金屬,化學(xué),建材等工廠,科研單位,院校之用。
TCT溫度循環(huán)測(cè)試箱(Temperature Cycling Test)是利用高溫低溫循環(huán)變化測(cè)試來(lái)評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體、IC芯片等產(chǎn)品對(duì)溫度變化的抵抗能力。主要是利用高溫低溫循環(huán)變化,來(lái)測(cè)試電子元器件、半導(dǎo)體、IC芯片等產(chǎn)品上各層不同物質(zhì)之熱膨脹俘數(shù)不同,而可能引起之故障機(jī)制。在此測(cè)試中因所用之溫度介質(zhì)為氣相,故一般亦稱(chēng)為air to air測(cè)試。
滿(mǎn)足GB/T2423.1(IEC60068-2-1);GB/T2423.2(IEC60068-2-2);
ISO16750;GB/T14710;GB/T13543;
JESD22等系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度試驗(yàn)。
恒定狀態(tài)波動(dòng)低于±0.3℃;
超低溫試驗(yàn)可達(dá)-85℃,亦可做液氮控溫,低溫可達(dá)-200℃;
控制器具有可進(jìn)行可靠性試驗(yàn)用的恒定值運(yùn)轉(zhuǎn)設(shè)定,還有針對(duì)溫度特性試驗(yàn)用的溫濕度組合交變等的編程設(shè)定功能 。
高性能設(shè)備極限達(dá)95℃98%R.H
現(xiàn)場(chǎng)溫濕度偏差聲光報(bào)警,獨(dú)立超溫報(bào)警
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